HIL试验室
汉拿电子研究所（汉拿-辽工联合试验中心）
HIL试验室的功能是整车控制器（VCU）和电机控制器（MCU）硬件在环测试机柜（VCU&MCU HIL）可以完成VCU和MCU开发中HIL测试，实现开发前期算法的功能性验证，保证算法的可靠性和功能上的完善。
该测试机柜从软件层面上看，更侧重于MCU的硬件在环信号级测试，可以较好地完成基于FPGA的高动态电机仿真，满足MCU测试中对I/O接口运算时间苛刻的要求。
汉拿电子研究所（汉拿-辽工联合试验中心）
HIL试验室的功能是整车控制器（VCU）和电机控制器（MCU）硬件在环测试机柜（VCU&MCU HIL）可以完成VCU和MCU开发中HIL测试，实现开发前期算法的功能性验证，保证算法的可靠性和功能上的完善。
该测试机柜从软件层面上看，更侧重于MCU的硬件在环信号级测试，可以较好地完成基于FPGA的高动态电机仿真，满足MCU测试中对I/O接口运算时间苛刻的要求。
整个VCU&MCU HIL机柜从组成模块来分，整套系统由系统硬件、系统软件和系统模型三部分组成。
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